اعانه 15 سپتمبر 2024 – 1 اکتبر2024 د پیسو د راټولولو په اړه

Основы зондовых технологий: методическое пособие

Main
Основы зондовых технологий:...

Основы зондовых технологий: методическое пособие

Корнилов В.М., Галиев А.Ф.

0 / 5.0

دا کتاب تاسو ته څنګه خواښه شوه؟

د بار شوي فایل کیفیت څه دئ؟

تر څو چې د کتاب کیفیت آزمایښو وکړئ، بار ئې کړئ

د بار شوو فایلونو کیفیتی څه دئ؟

В пособии изложены основные этапы развития зондовой микроскопии. Подробно рассмотрены принципы и физические основы работы зондовых микроскопов. Пособие содержит цикл лабораторных работ

کال:

2013

خپرندویه اداره:

ЭБС Лань

ژبه:

russian

ISBN 10:

5879787192

ISBN 13:

9785879787191

فایل:

PDF, 1.63 MB

IPFS:

,

russian, 2013

په آن لاین ډول لوستل

ته بدلون په کار دي

ته بدلون ناکام شو

ممکن تاسی علاقمند شی

Миронов В. Л. — Основы сканирующей зондовой микроскопии

Миронов В.Л. — Основы сканирующей зондовой микроскопии

Кухаренко, Л. В. — Сканирующая зондовая микроскопия для анализа медико-биологических объектов

Габдуллин П.Г. и др. — Физика нанокомпозитных материалов. Сканирующая зондовая микроскопия.

Шабанов Ш. Ш., Кардашова Г. Д., Даллаева Д. С. — Сканирующая зондовая микроскопия для исследования керамических материалов: пособие к курсу лекций

Волкова Е. В., Забавичев И. Ю., Оболенский С. В. — Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии: Практикум

Авачёв А. П., Вишняков Н. В., Гололобов Г. П., Митрофанов К. В. — Методические пособия для проведения лабораторных работ по направлению «Наноматериалы»

Волкова Е. В., Забавичев И. Ю., Оболенский С. В. — Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии: Практикум

Шабанов Ш. Ш., Кардашова Г. Д., Даллаева Д. С. — Сканирующая зондовая микроскопия для исследования керамических материалов: пособие к курсу лекций

Штейн Г.И. — Руководство по конфокальной микроскопии

Корнилов В. М., Галиев А.Ф.;рец.: Асфандиаров Н.Л., Рахмеев Р.Г. — Основы сканирующей зондовой микроскопии: метод. указания

Баранов А.В., Литвин А.П., Парфенов П.С., Ушакова Е.В. — Техника физического эксперимента в системах с пониженной размерностью. Часть 2. Лабораторный практикум

Корнилов В.М., Галиев А.Ф. — Основы сканирующей зондовой микроскопии

Усанов Д.А., Яфаров Р.К. — Исследование поверхности материалов методом сканирующей туннельной микроскопии

Усанов Д.А., Яфаров Р.К. — Исследование поверхности материалов методом сканирующей атомно-силовой микроскопии

Демиховский В.Я., Филатов Д.О. — Исследование электронных состояний в низкоразмерных структурах методами сканирующей зондовой микроскопии

Гусенко И.В. — Изучение методов сканирующей зондовой микроскопии

Габдуллин П.Г., Костюченко З.А., Поречная Н.И. — Физика нанокомпозитных материалов. Сканирующая зондовая микроскопия

Битюцкая Л.А. и др. (сост.) — Нанотехнологии в физике. Дистанционная лаборатория атомно-силовой микроскопии нанообъектов. Часть 1: Тестирование. Обработка и анализ изображения

Андреева Н.В., Габдуллин П.Г. — Физика и диагностика биомолекулярных систем. Исследования методами зондовой микроскопии

Булыгина Е.В., Макарчук В.В. и др. — Наноразмерные структуры: классификация, формирование и исследование

Круглов А.В., Голубок А.О. — Сканирующая зондовая, спектроскопия и литография

Булыгина Е.В., Макарчук В.В., Панфилов Ю.В., Оя Д.Р., Шахнов В.А. — Наноразмерные структуры: классификация, формирование и исследование

Лямкин А.И. — Экспериментальные методы исследований (Презентация)

Федоров А.В., Баранов А.В., Литвин А.П., Черевков С.А. — Специальные методы измерения физических величин

Кривелевич С. А., Насонова М. О., Яросл. гос. ун-т им. П. Г. Демидова — Сканирующая туннельная микроскопия (80,00 руб.)

Чистоедова И. А. — Оборудование для создания и исследования свойств объектов наноэлектроники

Коллектив авторов — Сергеев, В. А. Исследование микро- и наноструктур методами сканирующей зондовой микроскопии. В 2 ч. Ч. 1. : методические указания к лабораторным работам

Коллектив авторов — Исследование микро- и наноструктур методами сканирующей зондовой микроскопии. В 2 ч. Ч. 1 : лабораторный практикум

Г. Бинниг, Г. Рорер — Сканирующая туннельная микроскопия - от рождения к юности

Миронов В. Л. — Основы сканирующей зондовой микроскопии

Методичка. — Исследование наноматериалов с помошчью сканируюшчей зондовой микроскопии

Физический факультет МГУ им. М.В. Ломоносова — Современные достижения бионаноскопии: Сборник тезисов Второй международной конференции (Москва, 17-18 июня 2008 г.)

Филатов Д.О., Круглов А.В. — Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей туннельной микроскопии (СТМ). Описание лабораторной работы

Филатов Д.О., Круглов А.В., Гущина Ю.Ю. — Исследование топографии поверхностных твердых тел методом атомно-силовой микроскопии в неконтактном режиме: Описание лабораторной работы

مهمي جملي

поверхности

микроскопа

сканирования

изображение

изображения

микроскоп

поверхностью

туннельного

туннельный

кантилевера

образцом

разрешение

увеличение

микроскопии

изображений

позволяет

электронов

микроскопом

микроскопия

поверхность

измерения

оптического

представляет

расстояние

силового

сканирующий

туннельная

взаимодействия

объектов

управления

качестве

качество